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涂层测厚仪的分类以及影响漆膜测厚仪测量精度的原因
点击次数:404 发布时间:2016-11-03

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。 
   覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。 
   覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 
   X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 
    随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用zui广泛的测厚仪器。 
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。  

 

影响测量精度的原因

(1) 覆盖层厚度大于25μm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;

(2) 基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;

(3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;

(4) 涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的。

(5) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;

(6) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大; 

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